Noul EA1280 are rezoluția detectorului solicitată de standardul chinez (GB) și oferă o eficiență de lucru și o precizie analitică mai mare decât alte detectoare de semiconductori, cum ar fi diodele Si-PIN. În special în comparație cu alte metode de analiză, analiza cu fluorescență cu raze X oferă o analiză elementară rapidă, fără deteriorare și simplă, astfel încât este utilizată în mod constant de mai multe ori pentru screening-ul conformității RoHS.

Utilizarea unui nou tip de detector de semiconductori de înaltă performanță (detector de drift de siliciu (SDD)) pentru a îmbunătăți eficiența încercării și pentru a obține rezultate mai fiabile.

Utilizarea unui dispozitiv optic coaxial pentru observarea eșantioanelor și radiarea cu raze X pentru a facilita analiza diferitelor eșantioane.

Equipat cu software ușor de utilizat, operatorul poate utiliza analizatorul doar pentru o instruire simplă în controlul calității și controlul procesului.