Profilul produsului

● Caracterizarea in situ a punctelor optice

Spectrometru și analizator de raze

• Acoperirea lungimilor de undă de 10-80 nm

• Integrare rapidă și ușoară

• Dispozitiv multifuncțional compact

Pentru eșantionarea periodică in situ a razelor XUV, nanoLIGHT este un instrument complet de caracterizare. nanoLIGHT combină funcțiile spectrometrului XUV și analizatorului de fascicule XUV pentru a recupera complet bypassurile fasciculelor. Comutarea rapidă și automată între diferitele moduri de lucru este posibilă.

Datorită structurii sale compacte de 16 x 17 cm², nanoLIGHT este o soluție perfectă de transformare pentru setări experimentale mici.

nanoLIGHT poate înregistra simultan o gamă extrem de largă de lungimi de undă de 10-80nm, iar unitatea de inserție a filtrului permite selectarea și calibrarea utilizând filtre metalice.

Detectorul MCP cu eficiență și sensibilitate reglabilă a spectrului complet de până la 20% oferă spectrometrului o gamă dinamică largă.

Versiuni personalizate în cavitate ale nanoLIGHT sunt disponibile!

　　Parametrii tehnici:

Eficiența rasterului:

Aplicații

Sursă de înaltă armonie

Știință Atosecond

Interacţii puternice dintre laser şi substanţă

Laser electronic liber